Анализ полупроводников
-
DB-FIB
Введение в услугу В настоящее время DB-FIB (двухлучевой сфокусированный ионный пучок) широко применяется в исследованиях и инспекции продукции в таких областях, как: керамические материалы, полимеры, металлические материалы, биологические исследования, полупроводники, геология. Область применения услуги: полупроводниковые материалы, органические низкомолекулярные материалы, полимерные материалы, органические/неорганические гибридные материалы, неорганические неметаллические материалы. Предыстория услуги Благодаря быстрому развитию полупроводниковой электроники и интегральных схем... -
Разрушительный физический анализ
Стабильность качествапроизводственного процессавэлектронные компонентыявляютсяпредпосылкадля электронных компонентов, чтобы соответствовать их использованию и соответствующим спецификациям. Большое количество контрафактных и восстановленных компонентов наводняют рынок поставок компонентов, подходдля определения подлинности компонентов полки является серьезной проблемой, с которой сталкиваются пользователи компонентов.
-
Анализ отказов
С сокращением цикла НИОКР предприятия и ростом масштабов производства управление продукцией компании и конкурентоспособность продукции сталкиваются с многочисленными давлениями со стороны внутренних и внешних рынков. В течение всего жизненного цикла продукта качество продукта гарантируется, а низкий уровень отказов или даже нулевой отказ становится важной конкурентоспособностью предприятия, но это также является проблемой для контроля качества предприятия.
